- Công nghệ XRF
- ISO 9001:2015; IEC 61010,…
- Phạm vi đo: Na-U
- Mẫu đo: Hợp kim;Bo mạch in, đầu nối,...
- Nguồn phát tia X digiX-50
- Đầu dò SDD diện tích quét rộng
- Ngưỡng phát hiện: Na-U
- Giới hạn phát hiện lưu huỳnh dưới 2ppm
- Không cần xử lý mẫu
- Nhận được kết quả đo sau 1 phút.
- Phân tích LƯU HUỲNH và ClO
- Công nghệ XRF
- Thiết bị để bàn
- Phân tích trang sức
- Phân tích nhanh và chính xác đến 0,1%
- Nguồn phát tia X digiX-40
- Đầu dò SSD hiện đại
- Khoảng phát hiện từ Mg-U
